總結(jié)沖擊振動試驗臺的執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

　　●GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗二部分:試驗方法試驗Fc和導(dǎo)則:振動(正弦)

　　●GB/T2423.11-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗2部分:試驗方法試驗Fd:寬頻帶隨機(jī)振動—一般要求

　　●GB/T2423.12-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗2部分:試驗方法試驗Fda:寬頻帶隨機(jī)振動—高再現(xiàn)性

　　●GB/T2423.13-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗2部分:試驗方法試驗Fdb:寬頻帶隨機(jī)振動中再現(xiàn)性

　　●GB/T2423.14-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗2部分:試驗方法試驗Fdc:寬頻帶隨機(jī)振動低再現(xiàn)性

　　●GB/T2423.35-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法

　　●GB/T2423.36-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法

　　●GB/T2423.48-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗2部分:試驗方法試驗Ff:振動—時間歷程法

　　●GB/T2423.49-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗2部分:試驗方法試驗Fe:振動—正弦拍頻法

　　●GB/T2424.22-86電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度(低溫、高溫)和振動(正玄)綜合試驗導(dǎo)則

　　●GB/T2424.24-1995電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正玄)綜合試驗導(dǎo)則